同方威视与清华大学共同申请的毫米波专利获北京市发明专利奖二等奖
2021年04月23日 15:16 信息来源：同方威视技术股份有限公司
2021年4月20日，京津冀促进知识产权运用工作会暨北京市发明专利奖颁奖大会在京举行。同方威视与清华大学共同申请的专利“电磁波成像系统及天线阵列信号校正方法”获本届北京市发明专利奖二等奖。
本获奖专利“电磁波成像系统及天线阵列信号校正方法”提出了一种新的电磁波成像系统，可实现对目标物体的精确高分辨成像。应用本专利的同方威视毫米波人体安检仪具有非接触、高效舒适、精准报警等特点，可自动探测出藏匿于体表的金属或非金属嫌疑物，检出率、误报率等关键技术指标居国际领先水平，解决了我国人身安检技术面临的“卡脖子”问题。
目前，同方威视毫米波人体安检仪已通过中国民用航空局A级（最高级）许可认证和欧洲民航会议（ECAC）SSc A类标准2.1（最高级）测试，广泛应用于全球民航、海关、监狱及重大赛事活动等行业领域，为机场安检、出入境检查等场景提供快速、精准、舒适的人体安检服务。
北京市发明专利奖是北京市政府设立的重要奖项，设置该奖项的目的是发挥政府主导作用，鼓励创新主体的创新成果及时取得专利权，提高发明专利质量。第六届北京市发明专利奖共评选出获奖项目36项，其中特等奖1项、一等奖5项、二等奖10项、三等奖20项。截至目前，同方威视累计获得北京市发明专利特等奖1项，北京市发明专利一等奖2项，北京市发明专利二等奖1项。
2021年4月20日，京津冀促进知识产权运用工作会暨北京市发明专利奖颁奖大会在京举行。同方威视与清华大学共同申请的专利“电磁波成像系统及天线阵列信号校正方法”获本届北京市发明专利奖二等奖。
本获奖专利“电磁波成像系统及天线阵列信号校正方法”提出了一种新的电磁波成像系统，可实现对目标物体的精确高分辨成像。应用本专利的同方威视毫米波人体安检仪具有非接触、高效舒适、精准报警等特点，可自动探测出藏匿于体表的金属或非金属嫌疑物，检出率、误报率等关键技术指标居国际领先水平，解决了我国人身安检技术面临的“卡脖子”问题。
目前，同方威视毫米波人体安检仪已通过中国民用航空局A级（最高级）许可认证和欧洲民航会议（ECAC）SSc A类标准2.1（最高级）测试，广泛应用于全球民航、海关、监狱及重大赛事活动等行业领域，为机场安检、出入境检查等场景提供快速、精准、舒适的人体安检服务。
北京市发明专利奖是北京市政府设立的重要奖项，设置该奖项的目的是发挥政府主导作用，鼓励创新主体的创新成果及时取得专利权，提高发明专利质量。第六届北京市发明专利奖共评选出获奖项目36项，其中特等奖1项、一等奖5项、二等奖10项、三等奖20项。截至目前，同方威视累计获得北京市发明专利特等奖1项，北京市发明专利一等奖2项，北京市发明专利二等奖1项。
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